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ACCRETECH ML2200全自动红外激光切割机技术解析:隐形切割时代的精密切割

更新时间:2026-02-24点击次数:17

在半导体后道封装工艺中,晶圆切割(Dicing)的精度与品质直接决定着芯片的机械强度、电性能及最终成品率。随着器件轻薄化、MEMS敏感结构以及低k介质材料的普及,传统刀片切割面临的崩边、分层、水污染等挑战日益凸显。日本ACCRETECH(东京精密)作为的半导体设备供应商,其推出的ML2200全自动红外激光切割机,以红外激光隐形切割技术为核心,通过非接触式、干式的工艺路径,为200mm及以下晶圆的精密切割树立了新的技术。本文将从核心技术原理、性能优势、工艺创新及产业应用等维度,深度解析ML2200的技术内涵。

一、核心技术原理:红外激光隐形切割

1. 内部聚焦改性机制

ML2200搭载高性能红外激光引擎,其核心技术在于将激光束精确聚焦于硅晶圆内部,而非表面:

  • 波长选择:采用对硅材料具有高透过率的红外波段激光,激光可穿透晶圆表面直达指定深度。

  • 改性层形成:在聚焦点处,高的能量密度使硅材料发生多光子吸收,形成局部改性层(熔融或相变区域),而晶圆表面及背面保持完好无损。

  • 扩展分离:在后续的扩展工艺(Expansion Process)中,通过施加机械应力,晶圆沿改性层整齐裂开,实现芯片的分离。

2. 非接触式切割的核心优势

  • 无崩边与无碎屑:由于切割过程不涉及机械接触,消除了传统刀片切割常见的正面崩边、背面碎屑问题,尤其适用于对边缘强度要求严苛的薄型芯片。

  • 无表面损伤:激光能量被严格限制在内部,晶圆表面电路结构、钝化层及敏感器件不受任何热影响或机械应力干扰。

  • 超窄切割道:划线宽度可从传统刀片切割的90μm缩小至20μm,大幅节约晶圆面积。

二、干式工艺与MEMS器件适配性

1. 干式工艺

ML2200采用干式工艺,整个切割过程中无需冷却水或清洗水。这一设计对于以下场景具有革命性意义:

  • MEMS器件保护:加速度计、陀螺仪、麦克风等MEMS器件含有可动微结构,若接触水或清洗液,极易发生粘连(Stiction)导致器件失效。ML2200的干式特性规避了这一风险。

  • 吸水材料兼容:对于低k材料、有机衬底等吸水敏感材料,干式工艺消除了吸湿膨胀或介电常数变化的后顾之忧。

  • 工艺简化:无需后续干燥工序,缩短生产流程,降低能耗。

2. 加工负荷最小化

MEMS器件及薄型芯片对加工过程中的机械振动和热负荷极为敏感。ML2200的非接触加工特性,实现了对器件的“零负荷"处理,显著提升薄片、脆性材料的良率。

三、高产出性能与精度控制

1. 高速切割能力

ML2200通过高刚性运动平台与高输出激光器的协同优化,实现了800mm/秒以上的高速切割。

  • 高刚性平台:采用精密导轨与直线电机驱动,确保在高速扫描下的运动平稳性与定位重复性。

  • X轴送进速度:输入范围达0.1~1,100mm/s,覆盖从精密定位到高速扫描的全场景需求。

2. 亚微米级定位精度

  • Y轴分辨率:高达0.0002mm(0.2μm),确保切割道位置的精确对准。

  • 定位精度:在210mm行程内,定位精度控制在±0.002mm(±2μm)以内。这一精度等级确保了微小芯片、密集排布器件的可靠分离,避免相邻芯片损伤。

3. 厚度适应性

通过根据硅晶圆厚度调整激光加工扫描次数,ML2200可支持从薄片到厚片的广泛厚度范围。在超薄存储器件切割领域,该设备已积累丰富业绩,可实现低损伤、高弯曲强度、高速切割的工艺平衡。

四、成品率提升与成本降低逻辑

1. 切割道宽度缩小的经济价值

ML2200的核心价值之一在于通过缩小切割道宽度(Street Width),直接转化为芯片成品率的提升与成本降低。

  • 案例计算:以200mm晶圆、芯片尺寸1.0mm的小型器件为例:

    • 传统刀片切割:切割道宽度90μm

    • ML2200激光切割:切割道宽度可设计为20μm

    • 成品率提升:通过节省晶圆面积,芯片成品率可提高20%以上

2. 高弯曲强度

隐形切割形成的改性层界面平整、微裂纹极少,芯片侧壁强度远高于传统刀片切割。这对于后续封装、薄型堆叠及可靠性测试至关重要,显著降低封装过程中的碎裂风险。

五、工艺创新与可选配置

1. LAG工艺支持

ML2200可适配LAG(Laser After Grinding)工艺。该工艺将背面减薄与激光切割流程优化整合,进一步简化生产流程,减少晶圆搬运次数,降低薄片破损风险。

2. 丰富的可选配置

为满足不同客户对工艺质量和生产效率的追求,ML2200提供多种可选功能:

  • 设备内部清洁规格:可达100级洁净等级,满足高洁净度工艺环境要求。

  • 晶圆厚度测量功能:在线实时测量晶圆厚度,自动调整激光焦点位置,确保不同批次、不同厚度晶圆的一致加工效果。

  • 框架处理支持:采用切割框架(Frame Handling)方式,与现有产线流程无缝对接。

六、技术规格概览

参数维度技术规格技术解读
大晶圆尺寸Φ200mm适配6英寸及以下主流晶圆产线,兼顾MEMS、化合物半导体等特色工艺
处理方式框架处理(Frame Handling)与现有切割框架产线兼容,无需额外工装
X轴送进速度0.1~1,100mm/s宽范围可调,兼顾精密定位与高速扫描
Y轴分辨率0.0002mm(0.2μm)亚微米级分辨率,确保切割道精准对位
Y轴定位精度±0.002mm/210mm以内高刚性平台保障全行程一致性
设备尺寸1,640×1,340×1,800mm紧凑设计,优化洁净室空间利用率
设备重量约2,000kg稳固机身确保高速运动稳定性

七、典型应用场景

1. MEMS器件

加速度计、陀螺仪、压力传感器、微镜阵列等含有可动结构的MEMS芯片,干式工艺杜绝粘连失效。

2. 存储器件

NAND Flash、DRAM等薄型存储芯片的超薄切割(如50μm以下),实现高弯曲强度与高切割速度的兼得。

3. 化合物半导体

GaAs、SiC、GaN等脆性材料,传统刀片切割崩边严重,ML2200隐形切割可显著提升良率。

4. 低k介质器件

制程中的低k、超低k介质材料对机械应力敏感,激光切割消除分层风险。

5. 射频前端模块

RF芯片、滤波器等对洁净度与污染物极为敏感的应用场景,干式工艺与高洁净度选项提供双重保障。

结语

日本ACCRETECH东京精密ML2200全自动红外激光切割机,以其红外激光隐形切割的核心原理、干式工艺的独特优势、800mm/s高速产出的效率表现以及切割道宽度缩小20%以上的成本效益,重新定义了200mm及以下晶圆精密切割的技术标准。它不仅是替代传统刀片切割的工艺升级选择,更是应对MEMS器件、薄型芯片、低k材料等新兴挑战的必由之路。在半导体器件日益精密、多样的发展趋势下,ML2200以其稳定、精准且灵活的技术特性,为芯片制造后道工艺提供了值得信赖的核心装备支撑。


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