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SANKO山高电磁模拟薄膜测厚仪SM-Pen
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  • 笔型探头可测量小部件(定制)
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详情介绍

SANKO山高电磁模拟薄膜测厚仪SM-Pen

笔型探头可测量小部件(定制)

该笔型探头的尖端配有超细磁极,

可以测量小部件和狭窄空间。

测量范围
0 至 300 μm 0 至 5 mm(2 线刻度)
测量精度
均匀表面上±2μm或示值的±5%
电源
6节AAA电池(1.5V)
工作温度
0至40°C(无凝结)
飞机尺寸
105(宽)x 48(高)x 165(深)毫米
重量
500克
配件
标准厚度板、表盘盖、收纳盒
探测
笔型φ11×130mm,CVD磁极:φ2.6×4.5mm



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