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梅特勒-托利多 XPR205DU/A 分析天平技术解析
更新时间:2026-03-24
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梅特勒-托利多(METTLER TOLEDO)XPR205DU/A 是一款分析天平,属于超越系列(Excellence Series)产品线。该型号以其的称量性能、智能化的质量保障功能以及全面的数据完整性支持,成为制药、化工和科研领域微量样品称量的理想选择。
XPR205DU/A 采用双量程设计,大称量值为220 g,在精细量程内可读性高达0.01 mg(十万分之一),同时提供0.1 mg的标准可读性,兼顾了高精度与宽量程的应用需求。
| 参数项目 | 规格指标 |
|---|---|
| 大秤量 | 220 g / 81 g(精细量程) |
| 可读性 | 0.1 mg / 0.01 mg(双量程) |
| 重复性(典型值) | 0.01 mg(5%负载) |
| 重复性(标称负载) | 0.07 mg |
| 线性误差(典型值) | 0.06 mg |
| 稳定时间 | 1.5 s(标准量程)/ 2.5 s(精细量程) |
| 最小称量值(USP,0.1%,典型) | 20 mg |
| 秤盘尺寸 | 78 mm × 73 mm |
| 防风罩有效高度 | 235 mm |
| 天平外形尺寸(W×D×H) | 195 mm × 485 mm × 292 mm |
| 天平净重 | 9.4 kg |
数据来源:
XPR205DU/A 搭载了梅特勒-托利多的 MonoBloc 单模块称重传感器。该技术将称重单元的核心部件集成于单个铝制模块中,具有优异的温度稳定性和抗冲击性能。这使得天平能够实现高达 0.01 mg 的可读性,同时保证长期使用的可靠性。
内置的 FACT(Fully Automatic Calibration Technology)全自动校准技术采用两个内置砝码,在天平检测到温度变化时自动执行校准,确保称量结果的持续准确性。这一功能消除了手动校准的偏差,保证了每次称量的可追溯性。
静电是微量称量中常见的误差来源之一。XPR205DU/A 配备了有的 StaticDetect 静电检测功能,能够实时监测样品和容器上的静电电荷。当静电水平超过预设阈值时,天平会发出警告,用户可选配内置电离模块自动消除静电,确保称量结果的可靠性。
与传统秤盘不同,XPR系列采用创新的 SmartGrid 悬挂式网格秤盘。这种设计大程度减少了气流干扰和温度传递,显著提升了微量样品称量的稳定性。网格结构允许样品容器直接放置,同时便于清洁和交叉污染控制。
XPR205DU/A 兼容 LabX 实验室软件,为合规性管理提供全面支持。通过 LabX,用户可以:
在天平显示屏上获取 SOP 操作指引
自动记录称量结果及相关元数据
实现用户权限的分级管理
满足 FDA 21 CFR Part 11 关于数据完整性的要求
将天平与滴定仪、pH计等其他实验室仪器连接至统一平台
天平前部配备 StatusLight 状态指示灯,通过颜色变化直观显示天平状态:
绿色:天平已校准,处于正常工作状态
黄色:天平需要校准或处于待机状态
红色:超出允差范围,称量结果无效
XPR205DU/A 内置 LevelControl 水平控制系统,在检测到天平未处于水平状态时发出警告,并可在屏幕上显示实时水平调节指导,确保称量结果的准确性和可重复性。
可选配的 SmartSens 红外传感器支持非接触式操作,用户仅需挥手即可自动开启防风罩门,减少手动操作对天平稳定性的干扰,提高操作效率。
天平内置方法管理功能,可将不同称量任务的过程设置和允差范围保存为独立方法,用户可快速调用,确保每个操作人员都遵循相同的标准流程。用户权限管理支持密码保护和多级权限设置,满足合规性要求。
XPR205DU/A 的防风罩采用 ErgoDoors 设计,门体不突出天平轮廓之外,且支持交叉操作——可用左手轻松打开右侧门,便于在狭小空间内操作。
防风罩玻璃面板采用 QuickLock 设计,无需工具即可在数秒内完成拆卸和安装,便于清洁。所有玻璃面板均可放入洗碗机清洗,有效防止交叉污染。
天平外壳采用压铸铝和坚固塑料制造,高强度金属结构能够保护称重传感器,即使在频繁使用的实验室环境中也能保持长期稳定的性能。
XPR205DU/A 支持多种自动化升级选项:
自动粉末分配模块:实现粉末样品的自动化加样,精度远超人工操作
自动液体加样系统:适用于溶液配制等液体处理任务
ErgoClip 一步加样:专用样品容器支架,实现容器直接放置在秤盘上的一步式加样
XPR205DU/A 分析天平适用于以下应用场景:
| 行业 | 典型应用 |
|---|---|
| 制药行业 | 原料药称量、配方开发、质量控制、稳定性研究 |
| 化学工业 | 催化剂称量、精细化工品分析、研发实验室 |
| 食品与饮料 | 营养成分分析、添加剂称量、研发测试 |
| 科研机构 | 学术研究、材料科学、环境分析 |
梅特勒-托利多 XPR205DU/A 分析天平代表了分析称量技术的水平。其 0.01 mg 的高可读性、双量程设计、StaticDetect 静电检测、FACT 自动校准以及 LabX 软件兼容性,共同构建了一套完整的微量称量解决方案。
对于制药、化工和科研领域追求高精度称量、严格合规性要求以及数据完整性的实验室而言,XPR205DU/A 提供了值得考虑的技术选择。其在确保称量准确性的同时,通过智能化的质量保障功能和符合人体工学的设计,有效提升了实验室工作效率和结果可靠性。