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微观缺陷的“光学显影师”:船越龙FUNATECH FY-18L表面检查灯技术解析
更新时间:2026-02-28
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在智能手机光滑的玻璃盖板、汽车闪耀的漆面或是精密半导体晶圆的表面之下,隐藏着肉眼难以察觉的微观世界。一道比发丝还细数十倍的划痕、一粒微小的尘埃,都可能成为产品良率与可靠性的致命杀手。将这类“隐形"缺陷清晰地呈现给质检人员,正是日本船越龙(FUNATECH)FY-18L表面检查灯的核心使命。作为FY-18系列中的灯泡色(暖白光)型号,FY-18L凭借18W高功率LED、柔性臂设计、双滤光片系统以及无风扇散热等核心技术,已成为高精度目视检查领域的“工业法眼"。本文将从技术原理到应用实践,深度解析这款设备的光学底蕴与工程价值。
FY-18L并非简单的照明工具,而是一套基于精密光学与人类视觉工效学的缺陷显影系统。其核心工作原理是通过创造并利用光与表面相互作用的反差,使微观缺陷“无所遁形"。
工作流程可以概括为 “选择性照明"与“反差增强" 两个阶段:
高亮度光源发射:内置的18W高功率LED阵列发出高强度光线,瞬间启动无需预热。
光谱纯化处理:光线通过专门设计的滤光片(标准配置含透明型和扩散型),形成高纯度的光束。通过安装另售的绿色滤光片,可将波长限制在500nm以下,输出约500-600nm范围的绿色光源——这一波段是人眼最敏感的区域,能有效减轻长时间检查带来的视觉疲劳。
表面照射与散射:当这束光以特定角度照射在光滑工件表面时,平整区域发生规则的镜面反射;而任何微小的划痕、凹坑、异物或橘皮纹,都会使光线发生不规则的散射(漫反射)。
反差增强与缺陷显现:这种刻意被光学系统所强化的明暗、形状反差,使得人眼能够轻易识别在普通环境光下不可见的微观瑕疵,可确认10µm以下的伤痕和微粒子。
值得一提的是,FY-18L的显影原理与依赖荧光材料发光的紫外(UV)检测技术有本质区别——它不依赖于任何化学荧光效应,而是纯粹通过物理光学手段增强对比度,因此适用于玻璃、金属、塑料、涂层等绝大多数材料表面。
FY-18L的技术参数体现了日本工业设计对细节的追求。
光源类型:18W高功率LED,色温为灯泡色(暖白光),接近传统白炽灯的柔和光色,适合对色温有特定要求的检测场景。
中心照度:在45cm工作距离下,安装透明滤光片时可达约30,000 Lux,足以照亮大面积检测区域并凸显微小瑕疵。
LED寿命:元件寿命长达约50,000小时,大幅降低了频繁更换光源的维护成本。
机身尺寸:底座为180×120×50mm,光源头部为φ68×86mm,垂直全长638mm。
整机重量:3.4kg(不含AC适配器),稳重而不失便携。
电源与功耗:输入AC100~240V(47~63Hz),输出DC24V 1.67A;功耗可调,最小音量时仅2.8W,大音量时22.6W。
冷却方式:主动散热方式(无风扇),既保证了长时间工作的散热需求,又避免了风扇带来的噪音和灰尘扰动,使其可在洁净室(净化间)使用。
搭载调光功能,通过调光旋钮实现基于直流控制方式的连续亮度调节,可根据不同材料和检测需求选择佳照明条件。采用柔性单轴臂设计,可自由调整光源的照射角度和高度,无论是对复杂曲面还是微小深孔,都能轻松实现多角度照明。
标准配备透明型和扩散型两种滤光片:
透明滤光片:提供高亮度和最锐利的光影对比,适合检测细微划痕和颗粒。
扩散滤光片:使光线更均匀柔和,适合检查大面积的平整度或涂层均匀性。
用户可根据检测对象快速切换,实现“一机多用"。
光源头部可分离,配合安装支架可在不同工位灵活部署。通过选配绿色滤光片(Daiglo滤镜),可输出500-600nm范围的纯绿色光源,进一步强化人眼对特定缺陷的敏感度,同时降低长时间作业的眼部疲劳。
FY-18L凭借其高亮度、可调角度及滤光片扩展能力,广泛应用于对表面质量有严苛要求的各个工业领域。
为了发挥FY-18L的大效能,规范的操作至关重要:
角度即视角:针对线性划痕,使光线方向与划痕走向垂直;对于凹坑或颗粒,采用低角度掠射光效果佳。
亮度需适配:对于高反射率表面(如镜面金属),适当降低亮度可避免眩光,反而能提升对比度。
滤光片选择:透明滤光片适合高精度划痕检测,扩散滤光片适合大面积均匀性检查。
环境控制:尽量在暗室或低环境光条件下使用,以大化检查灯光产生的对比度效果。
日本船越龙FUNATECH FY-18L表面检查灯,以其18W高功率LED、30,000 Lux高照度、柔性臂灵活调节、双滤光片系统以及无风扇设计,在微观缺陷检测领域树立了光学检验。它通过精密的光学工程,实质上是延伸并增强了质检员的视觉感知能力,将不可见变为可见,将模糊变为清晰。在追求的智能制造时代,FY-18L不仅是一台检查灯,更是连接精密制造与品质之间的一道“光之桥梁"。对于那些对表面质量有着追求的半导体、光学、汽车及精密制造企业而言,FY-18L无疑是一位值得信赖的“微观缺陷显影师"。