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日本USHIO牛尾受光器探头传感器技术解析
更新时间:2025-12-01
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精准捕捉每一缕光,日本USHIO牛尾的受光器探头传感器正在重新定义光学测量的精度与效率边界。
在精密测量与工业检测领域,对光信号的精准捕捉与分析至关重要。日本USHIO牛尾推出的受光器探头传感器,以其的测量精度、丰富的波长阵容与灵活的应用适配性,成为科研与工业界信赖的选择。
USHIO牛尾受光器探头传感器是专为紫外光强度测量而设计的精密仪器,主要配合UV积分照度计UIT-250主机使用。
这一系列传感器通过更换不同的受光部,能够覆盖五个中心波长(172nm、254nm、313nm、365nm、405nm)的测量需求。
传感器采用分离式设计理念,用户可根据实际应用场景选择适合的探头型号。这种模块化设计大幅提升了设备的使用灵活性和场景适应性。
USHIO牛尾受光器探头传感器融合了多项技术,构成了其在光学测量领域的核心竞争力。
通过更换受光部,该传感器可测量从深紫外线到近紫外线的五个中心波长(172nm/254nm/313nm/365nm/405nm)。
这种宽广的波长覆盖范围使其能够满足多种工业场景的测量需求,从半导体加工到印刷制版,均可找到适用的探头型号。
该传感器支持照度、峰值照度、累积光强、照度分布、点光源照度及温度分布等多种测量模式。
内置存储器可连续测量并存储长达4分钟的照度数据,为后续分析和报告生成提供了充分的数据支持。
设备配备了清晰的液晶数字显示器,可同时显示4位照度值和5位积分光量值。
具备串行通讯功能,可轻松与PC连接进行数据交换和远程控制,方便用户集成到现有测量系统中。
USHIO牛尾受光器探头传感器提供了完整的产品系列,满足不同场景下的精确测量需求。
分离型受光器是该系列的核心产品,包含多种型号,每个型号针对特定波长优化:
VUV-S172:专门测量172nm深紫外线,适用于特殊工业流程
UVD-S254:针对254nm波长测量,常用于杀菌消毒效果评估
UVD-S313:中心波长313nm,适合光化学反应研究
UVD-S365:365nm波长测量,多用于半导体光刻工艺
UVD-S405:405nm近紫外线测量,适用于印刷制版领域
除了分离型探头,USHIO还提供一体型受光器,包含UVD-C254、UVD-C365和UVD-C405等型号,为不同应用场景提供更多选择。
完整的测量系统还包括UIT-250主机、多种长度的延长线(标准2m/5m/10m/15m/20m)以及隔热罩盖等附件,确保系统在各种环境下的稳定运行。
USHIO牛尾受光器探头传感器的应用范围广泛,覆盖多个行业的精密测量需求。
在印刷、涂装和粘接行业中,紫外线固化工艺的质量控制至关重要。使用UVD-S365或UVD-S405探头可精确测量紫外线强度,确保固化效果均匀一致。
在半导体光刻工艺中,365nm波长的紫外线是常用光源。UVD-S365探头能精准测量光刻机紫外线强度,为芯片制造提供过程控制依据。
254nm波长的紫外线广泛用于水和空气的杀菌消毒系统。UVD-S254探头可测量紫外线强度,确保消毒效果符合设计标准。
在光化学、材料科学等研究领域,不同波长的紫外线可能引发不同的光化学反应。USHIO牛尾的多波长探头系列为科学研究提供了可靠的测量工具。
正确使用USHIO牛尾受光器探头传感器是获得可靠测量结果的前提。
将选定的受光器探头通过延长线连接至UIT-250主机,根据需要选择适合的测量模式(照度、峰值照度或累积光强)。
根据光源强度,使用H/M/L开关切换测量范围,确保读数在佳量程内。
按下电源开关启动设备,选择所需的测量模式,将受光器探头置于待测位置,确保受光面正对光源。
按下启动/停止开关开始测量,测量过程中可实时观察照度值变化,测量完成后数据会自动存储。
通过串行通信接口连接PC,可导出测量数据进行进一步分析或生成报告。
对于长期监测需求,可利用设备的4分钟数据记录功能,全面捕捉光强变化过程。
随着各行业对精准测量要求的不断提高,光学测量设备正朝着更加精密化、智能化的方向发展。
USHIO公司在光学领域的技术积累为其产品创新提供了坚实基础。公司在SWIR(短波红外)LED等新型光源领域的研发,显示了其在扩展测量频谱方面的技术野心。
未来,我们可以预见USHIO牛尾受光器探头传感器将在更高精度、更宽波长范围和更强智能功能方面持续进化,满足日益增长的工业检测和科学研究需求。
从半导体制造到印刷固化,从杀菌消毒到科学研究,USHIO牛尾受光器探头传感器凭借其精准的测量性能和丰富的产品系列,正成为各行业质量控制和工艺优化的可靠伙伴。
正如一位长期用户所言:“在精密光学测量的世界里,USHIO牛尾不仅是工具,更是我们洞察光与物质相互作用的眼睛,它用精准的数据支撑着每一次工艺的优化和产品的创新。"