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KEM京都电子的热盘式热物理性能分析仪,其核心技术原理是 瞬态平面热源法,也常被称为“热盘法"。这种方法能快速、精确地同时测量材料的导热系数、热扩散率,并计算出比热容。
探头的双重角色
仪器的核心是一个特殊的探头,它通常由导电金属(如镍)蚀刻成双螺旋结构,并封装在绝缘薄膜中。这个探头扮演着双重角色:它既是一个加热器,通过施加一个精确控制的恒定电流来对样品进行加热;同时,由于金属的电阻会随温度变化,它又是一个高精度的温度传感器,用于监测自身温度随时间的变化。
瞬态加热与数据采集
测量开始时,仪器会向探头施加一个短时间的恒定加热功率。在加热过程中,探头产生的热量会同时向探头两侧的样品中扩散。与此同时,仪器以高的频率实时监测并记录探头的电阻变化,由于电阻与温度存在确定的对应关系,从而可以得到一条精密的温升-时间曲线。
数据分析与参数计算
得到温升曲线后,核心的物理模型就开始发挥作用了。该方法基于非稳态热传导理论,通过分析实验测得的温升曲线与理想数学模型进行拟合。
这种工作原理赋予了KEM热盘式分析仪一系列突出优点:
绝对法测量:基于严格的理论模型,直接测量物理量的变化,结果具有良好的重复性(导热系数重复性可达2%以内),且通常无需校准。
应用广泛:通过选用不同形状和尺寸的探头,可以测量各向同性材料、各向异性材料、固体、粉末、凝胶、液体等多种形态和性质的材料。
以KEM的TPS 2500 S和TPS 1500为例,它们符合国际标准(如ISO 22007-2),测量范围宽,能够覆盖从绝热材料到金属等多种材料。
其主要应用领域包括:
新材料研发:如开发高性能的隔热材料、导热界面材料等。
产品质量控制:在化工、建材、航空航天等领域,对原材料和成品的导热性能进行批次检验。
学术研究:在物理、化学、材料科学等领域进行基础研究。