欢迎进入玉崎科学仪器(深圳)有限公司网站!
菲涅耳透镜模拟平行光
采用菲涅耳透镜组替代传统透镜,将点光源(如金属卤素灯或UV LED)发出的散射紫外光转换为近似平行光束。这种设计显著提升光线准直性(平行半角可控制在1.5°–5°范围内),确保超大曝光区域(如2500×2500mm)内光强均匀度达95%以上
平行光可减少光线斜射导致的图形畸变,尤其适用于PDP等需高精度线宽(±5μm误差)的场景
UV光源技术演进
传统汞灯光源:使用6–8kW瞬时点灯金属卤素灯,通过椭球反射镜聚光,再经复眼透镜匀化光路。但汞灯寿命短(约750–1000小时),需频繁更换,且能耗高。
UV LED替代方案:新型设备采用高密度LED阵列(波长365nm),寿命超2万小时,光效达40%。LED直接耦合复眼透镜模组,省去反射镜简化光路,节能50%以上且无臭氧污染
多级对位机制
预对位:通过基板表面3点激光检测,粗调位置精度至±20μm
自动精对位:采用CCD影像处理器识别基板与掩模上的“+"和“□"标记,驱动伺服电机(脉冲精度0.1μm)调整X/Y/θ轴,最终对位精度达±1μm
动态间隙整定
以半导体激光器发射、CCD接收反射光,实时监测掩模与基板间距离(50–300μm)。三点式间隙传感器(分辨率1μm)配合伺服顶杆,确保间隙整定误差≤±5μm,避免因基板弯曲(≤0.2mm)导致成像模糊
气压驱动密合技术
超大台面(如3m×2m)采用双层密封结构:上框覆盖导气纹路橡皮布,下模座嵌曝光玻璃。真空泵(负压≤–93kPa)抽气后,大气压力迫使橡皮布均匀压合基板与掩模,消除空气残留导致的局部脱焦。
辅以回转夹紧气缸锁紧框架,避免机械变形(如CN202222348679)
辅助曝光模块集成
针对有效区域外的边角曝光,增设可移动LED扫描灯源。通过同步带滑台模组驱动灯座横向移动,实现补充曝光,确保全幅面图形完整性
光量积算反馈控制
UV传感器实时监测光照强度,将数据转换为电信号输入积分电路。系统对比预设曝光量(如80mJ/cm²)与累积光量值,动态调整曝光时间,补偿灯管老化或电压波动的影响。
多参数配方管理
触摸屏内置RECIPE系统,存储60组以上曝光参数(基板尺寸、曝光量、对位坐标等)。操作时一键调用,避免人工设定错误。
反射光优化算法
技术(如JP特开平4-148527改进)通过检测基板反射光强,结合光刻胶厚度与基底材料反射率模型,动态修正曝光时间,减少因膜厚偏差导致的过曝/欠曝
温控与除尘:强制风冷+水冷系统维持灯室恒温;高效滤器(HEPA)净化曝光室空气,避免微粒附着图形。
安全机制:急停按钮切断动力源;漏电保护与真空故障联锁确保运行安全
系统模块 | 技术特点 | 性能指标 |
---|---|---|
光学照明 | 菲涅耳透镜+复眼匀光,可选汞灯/LED | 均匀度≥95%,平行半角≤5° |
对位精度 | CCD视觉+伺服脉冲控制(0.1μm/步进) | 综合精度±1μm |
真空密合 | 导气橡皮布+四边抽气槽,回转气缸锁紧 | 真空度≤–93kPa,压合变形≤±10μm |
智能控制 | 光量积算器+RECIPE配方,反射光实时反馈 | 曝光量误差≤5%,支持60组参数存储 |
PROTEC超大型曝光机的设计哲学是 “以光路精度为核心,以机械与智能控制为两翼" 。其菲涅耳平行光系统解决了大面积均匀曝光难题,而多级对位与光量闭环控制则确保了微米级图形复制的稳定性,最终在PDP、巨量转移PCB等制造中实现“零毛边"图形转移。未来方向将聚焦全LED化与AI曝光参数自适应,进一步降低超大规模制造的能耗与运维成本。