一、产品定位
CEM华盛高精度涂镀层测厚仪是面向金属加工、航空航天、轨道交通、船舶制造、电子电镀及第三方检测实验室的便携式精密仪器。该系列设备符合 ISO 2178、ISO 2360、ASTM B499、ASTM E376、DIN EN ISO 2808 等国际规范，可对钢铁、铝铜及其合金、不锈钢、陶瓷、塑料等基底上的绝缘或导电涂层厚度进行非破坏性测量，测量范围 0–2000 µm，最高分辨率 0.1 µm，典型重复性 ≤ ±(1 %H + 1 µm)。
二、产品特性
双原理一体化
• 磁感应（Fe 基）与涡流（NFe 基）双原理自动识别基底，无需人工切换；
• 支持 F/NFe 自动分选，避免误测。
超高精度与宽量程
• 分辨率 0.1 µm（≤100 µm 档）；
• 示值误差 ≤ ±(1 %H + 1 µm)；
• 量程 0–2000 µm（可扩展至 5 mm 特殊探头）。
智能化功能
• 3.5 英寸 TFT 彩色触摸屏，中文图形菜单；
• 内置 500 组数据存储，支持 USB-C 导出、蓝牙 5.0 打印；
• 实时统计（平均值、最大值、最小值、标准差、Cp/Cpk）。
探头系统
• 红宝石测头，维氏硬度 2000 HV，防刮耐磨；
• 可更换微型、直角、长杆、高温（≤250 ℃）探头，适应复杂工况；
• 自动探头零位补偿与温度漂移修正。
环境适应性
• 工作温度 –10 ℃–50 ℃；
• IP54 防护，1 m 跌落测试通过；
• 内置锂电池，连续工作 ≥ 40 h，支持边充边测。
校准与溯源
• 附带可追溯 NIM（中国计量院）的一级校准片 5 片；
• 支持用户自定义两点、五点校准；
• 软件内置 ISO 校准提醒周期管理。
三、工作原理
磁感应法（Fe 基底）
仪器向铁磁性基底发射低频磁场，探头内部的霍尔元件检测磁阻变化。涂层厚度 d 与磁通密度 B 成反比，通过内置算法
d = k / (B – B₀)
其中 k 为探头常数，B₀ 为零位基准。
涡流法（NFe 基底）
高频交变电流在探头线圈产生交变磁场，在导电基底上感应涡流。涡流反磁场削弱线圈阻抗，阻抗变化量与涂层厚度 d 满足
d = A·ln(Z₀/Z) + B
A、B 由校准片标定得到。
温度补偿与线性化
内置温度传感器实时采集探头温度，通过 MCU 对磁导率 μ 与电导率 σ 的温度系数进行补偿，确保 –10 ℃–50 ℃ 全温区精度不变。
数字信号处理
• 32-bit ARM 内核，采样频率 200 kHz；
• 采用 IIR 抗干扰滤波器，抑制工频 50 Hz 干扰；
• 多点校准曲线拟合（最小二乘法），提高非线性段精度。
四、典型应用
• 航空航天：铝合金阳极氧化膜 5–40 µm 在线监测；
• 汽车板件：镀锌层 7–15 µm 过程控制；
• 电子电镀：金手指镀镍金 0.5–3 µm 精密检测；
• 第三方检测：依据 ISO/IEC 17025 出具可追溯报告。
五、维护与校准周期
日常维护
– 每次测量后清洁测头，避免金属屑划伤；
– 长期不用时，每月执行一次自检。
校准周期
– 工业现场：≤ 3 个月；
– 实验室：≤ 6 个月；
– 校准片磨损 > 5 % 即需更换。
六、总结
CEM华盛高精度涂镀层测厚仪以磁感应-涡流双原理为核心，结合高灵敏度探头、智能化软件与全温区补偿算法，实现了对各类基底上微米级涂层的快速、无损、高重复性测量。其宽量程、丰富探头配置及完善的数据管理功能，为制造和品质控制提供了可靠保障。
热线电话：13530735388
CEM华盛高精度涂镀层测厚仪的工作原理和产品特性
更新时间：2025-07-16
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